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Elektronenmikroskopie und Röntgenbeugung

Dozentin/Dozent

 Dr. rer. nat. Christoph Somsen

Daten

Lehrveranstaltungsnummer: 136375
Semester: Sommersemester
Sprache: Deutsch
Art der Veranstaltung: Vorlesung mit Übung
Semesterwochenstunden: 4
Leistungspunkte: 5
Studiengänge:

Beschreibung

Der Einsatz der Röntgenbeugung und der Rasterelektronenmikroskopie (REM) erlaubt, Mikrostrukturen von Werkstoffen quantitativ zu beschreiben. Mit Hilfe dieser beiden Methoden kann man (i) kristalline Substanzen identifizieren und Phasenanteile in mehrphasigen Werkstoffgefügen ermitteln, (ii) Texturen bestimmen und (iii) kleine Teilchen (z. B. Karbide) abbilden und chemisch analysieren. Mit Hilfe der Rasterelektronenmikroskopie lassen sich auch Bruchflächen untersuchen, um Versagensursachen zu identifizieren. Grundlage für beide Verfahren ist die Beugung von Elektronen bzw. Röntgenstrahlung an Kristallen. Im REM-Teil der Vorlesung werden die Kontrastentstehung, die Indizierung von Elektronenbeugungsbildern und die chemische Analyse im REM (EDX) behandelt. Im Röntgenteil werden die wichtigsten werkstoffwissenschaftlichen Verfahren (Pulverdiffraktometrie, Laue-Verfahren, Eigenspannungsmessung und Texturanalyse) besprochen.